低分子環状シロキサン分析のご案内
実績多数！ご希望の分析方法で報告させて頂きます。
シリコン中の低分子環状シロキサンが電子部品に接点不良などの不具合を起こす可能性がある事から、電機、自動車メーカー様よりシロキサン分析のご依頼を頂いています。長年の分析ノウハウと最新機器を活かしで価格、納期等お客様のご要望にお応えします。
●目的に応じて様々な分析方法に対応します。測定対象と方法をお選び下さい。
・測定対象
低分子環状シロキサン3～7量体 （D3～D7）
低分子環状シロキサン3～10量体 （D3～D10）
低分子環状シロキサン3～20量体 （D3～D20）
・分析方法
| 分類 | 分析方法 | 必要量 | 納期 |
|---|---|---|---|
| 含有試験 | 溶媒抽出-GC(FID)またはGC/MS | 約5g | 試料到着後翌日起算10～15営業日 |
| 放散試験 | 各種チャンバー、 ヘッドスペースサンプラー 等 |
低分子環状シロキサン分析のお問合せ
低分子環状シロキサン測定費用のお見積もりや分析のご依頼などは下記営業部署にお問合せ下さい。
TEL：045-780-3831 FAX：045-780-3847 製品営業課
注文書のダウンロード
エクセルファイルが開かない場合は、こちらをお使いください。分析注文書.pdf
注文書のご注意欄をご確認の上ご記入いただき、上記のFAXまたはメールにてお送りください。
また、見積り依頼の場合は、連絡事項欄に「見積依頼」とご記入下さい。
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